Reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies
258,95 $

Reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies

ALVIN W. STRONG, JORDI SUNE, VOLLERTSE


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ALVIN W. STRONG, JORDI SUNE, VOLLERTSE

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Résumé
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.
Détails
Titre
Reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies
Prix
258,95 $
Sujet
Format Poche
Non
Langue
Français/French
Date de publication
2009-10-13
ISBN
9780470455258
Code Interne
2173257
Numéro de produit
2173257
Format numérique
pdf
Protection
Adobe DRM
Entrepôt Numérique
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